Buchbeiträge
Koch, A.W.:
Measurement and Sensor Systems - A Comprehensive Guide to Principles,
Practical Issues and Applications
Springer Series in Measurement Science and Technology
ISBN 978-3-031-15869-8 (print)
ISBN 978-3-031-15870-4 (eBook)
https://doi.org/10.1007/978-3-031-15870-4
Koch, A.W. (Ed.):
Optomechatronics.
Special Issue of the Open Access Journal "Sensors", MDPI AG, Basel, Switzerland, 2014,
ISBN 978-3-03842-001-9 (print).
Koch, A.W.:
Speckle Measurement Techniques for Surface Analysis.
In: Salazar, F. (ed.): Speckle Photography and Speckle Interferometry
and their Applications to Mechanic Solid Problems,
Research Signpost, 2008, ISBN 978-81-308-0240-4.
P. Evanschitzky, A.W.Koch:
Optische On-line-Diagnostik von Oberflächen unter industriellen Umgebungsbedingungen.
Messen, Prüfen, Automatisieren (mpa), Band 3: Sensoren, Aufnehmer, Systeme 2000 (ed. K.W. Bonfig),
b-Quadrat Verlags GmbH, Kaufering, 2000, ISBN 3-933609-05-4.
P.H. Fink, A.W. Koch:
Optischer On-Line-Sensor zur Qualitätsüberwachung von Glasoberflächen.
Messen, Prüfen, Automatisieren (mpa), Band 1: Sensoren und Feldbussysteme (ed. K.W. Bonfig),
b-Quadrat Verlags GmbH, Kaufering, 1998, ISBN 3-933609-00-3.
A.W. Koch, M.W. Ruprecht, O. Toedter, G. Häusler:
Optische Meßtechnik an technischen Oberflächen.
expert-Verlag, Renningen, 1998, Reihe Technik, ISBN 3-8169-1372-5.
M.W. Ruprecht, A.W. Koch:
Interferometrische Messung von Schichtparametern.
In: Meß- und Automatisierungspraxis: Band 2:
Meßtechnik und wissensbasierte Systeme (ed. K.W. Bonfig),
expert-Verlag, Renningen, 1997, ISBN 3-8169-1582-5.
O. Toedter, A.W. Koch:
Einsatz von langreichweitigen Laserlichtschranken.
In: Sensorik Band 8: Sensoren und Signalverarbeitung (ed. K.W. Bonfig),
expert-Verlag, Renningen, 1997, ISBN 3-8169-1428-4.
A.W. Koch:
In situ - Charakterisierung von plasmaunterstützten Beschichtungsprozessen.
VDI-Fortschritt-Berichte, Reihe 8 Nr. 357
(VDI-Verlag, Düsseldorf, 1993) ISBN 3-18-145708-6.
A.W. Koch:
Diagnostik von Plasmastrahlen mittels Laserstreuverfahren.
VDI-Fortschritt-Berichte, Reihe 8 Nr. 356
(VDI-Verlag, Düsseldorf, 1993) ISBN 3-18-145608-X.
A.W. Koch:
Plasma Deposition: Processes and Diagnostics.
In: Plasma Technology - Fundamentals and Applications, eds. M. Capitelli and C. Gorse
(Plenum Press, New York, 1992) ISBN 0-306-44207-8.
A.W. Koch, M. Engelhard, W. Jacob, W. Möller and R. Wilhelm:
In situ plasma and surface diagnostics of C:H deposition from ECR plasmas.
In: Diamond and Diamond-Like Films and Coatings,
eds. R.E. Clausing, L.L. Horton, J.C. Angus and P. Koidl, NATO-ASI Series B: Physics, Vol. 266, 281
(Plenum, New York, 1991) ISBN 0-306-44004-0.